全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件 軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對(duì)吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強(qiáng)和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時(shí)顯示多個(gè)光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對(duì)于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個(gè)多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

礦石光譜分析儀能夠快速、準(zhǔn)確地分析礦石中的各種元素和化合物，幫助礦石開采和加工企業(yè)更好地了解礦石的成分和特性。它們可以在礦山現(xiàn)場或?qū)嶒?yàn)室中使用，提供實(shí)時(shí)的結(jié)果，幫助企業(yè)做出決策。

鐵精粉光譜儀通常采用光學(xué)原理，包括可見光、紅外光和紫外光等波長范圍。它通過將樣品暴露在特定波長的光下，測量樣品對(duì)光的吸收、散射或發(fā)射等特性，然后根據(jù)這些特性獲得樣品的光譜信息。利用鐵精粉光譜儀，可以對(duì)鐵精粉樣品的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、雜質(zhì)含量和物理性。

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