以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時(shí)，會(huì)釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號(hào)得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點(diǎn)：可快速同時(shí)分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測，不會(huì)對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

紅外光譜儀：
工作原理：利用物質(zhì)分子對紅外光的吸收特性進(jìn)行分析。不同的分子結(jié)構(gòu)會(huì)對特定波長的紅外光產(chǎn)生吸收，通過測量樣品對紅外光的吸收光譜，可以獲得分子結(jié)構(gòu)的信息，進(jìn)而識(shí)別礦石中的礦物成分。
特點(diǎn)：能提供豐富的分子結(jié)構(gòu)信息，可用于定性分析非金屬礦石中的有機(jī)物、碳酸鹽、硫酸鹽等礦物成分，操作相對簡便，分析速度較快。
應(yīng)用：常用于非金屬礦石中黏土礦物、有機(jī)質(zhì)等成分的分析，在陶瓷原料、石墨礦、高嶺土等礦產(chǎn)的檢測中應(yīng)用較多。

激光粒度分析儀：
工作原理：基于激光散射原理，當(dāng)激光束照射到礦石顆粒上時(shí)，會(huì)發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光的角度和強(qiáng)度與顆粒的大小有關(guān)。通過測量散射光的分布情況，可以計(jì)算出礦石顆粒的粒度分布。
特點(diǎn)：測量速度快，精度高，可同時(shí)測量多個(gè)粒徑范圍，適用于各種類型的非金屬礦石顆粒分析，且樣品制備簡單，對樣品的破壞性小。
應(yīng)用：在非金屬礦石的加工過程中，如磨礦、分級等環(huán)節(jié)，用于監(jiān)測和控制礦石顆粒的粒度，以優(yōu)化加工工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量。例如，在石英砂加工中，通過激光粒度分析儀可控制石英砂的粒度分布，滿足不同工業(yè)應(yīng)用的需求。