礦石礦物分析儀具有哪些用途呢？
1、大規(guī)模礦區(qū)快速勘查、有效確定礦區(qū)模式、礦山測繪、實(shí)時(shí)調(diào)查。
2、發(fā)現(xiàn)問題異常發(fā)展?fàn)顩r，做到開采富礦區(qū)。
3、在野外快速跟蹤礦化異常，找到“熱點(diǎn)”帶，有效圈定礦體邊界。
4、對銑頭、精礦和礦渣進(jìn)行的分析，以建立一個(gè)發(fā)展開采和富集的過程。
5、判斷礦帶方向及含礦量異常，避免誤采。
6、對高品位、精選礦石進(jìn)行的品位評定，提供礦石圖像采集、收購企業(yè)價(jià)值理論依據(jù)。
7、對礦渣和尾礦中的殘余礦石元素進(jìn)行分析，并重新判斷其價(jià)值。
8、在礦石資源開采工作過程，搪孔、研磨、濃縮和熔煉過程中可以進(jìn)行品檢，確定文化品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液需要進(jìn)行研究分析。
9、對動力設(shè)備、管道、生產(chǎn)線進(jìn)行維護(hù)，對設(shè)備潤滑油等油品中微量金屬進(jìn)行分析，確定設(shè)備的磨損狀態(tài)。
10、污染水、廢水中環(huán)境污染金屬成份、污染管理模式、污染企業(yè)邊界的迅速發(fā)展調(diào)查與測量。

以下是一些常見的非金屬礦石檢測設(shè)備：
X 射線熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當(dāng) X 射線照射到礦石樣品時(shí)，會激發(fā)樣品中元素原子的內(nèi)層電子，使其躍遷至高能級。當(dāng)這些高能級電子回落到低能級時(shí)，會釋放出具有特定能量的特征 X 射線。探測器捕獲這些特征 X 射線并將其轉(zhuǎn)換成電信號，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)通過分析電信號得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點(diǎn)：可快速同時(shí)分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無損檢測，不會對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數(shù)字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過程控制以及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導(dǎo)開采和加工過程。

電子顯微鏡：
工作原理：利用電子束代替可見光來成像，電子束與樣品相互作用，產(chǎn)生各種信號，如二次電子、背散射電子等，通過檢測這些信號來獲得樣品的表面形貌、結(jié)構(gòu)和成分信息。
特點(diǎn)：具有高分辨率，能觀察到礦石樣品的微觀結(jié)構(gòu)和形貌，可用于分析礦石的晶體結(jié)構(gòu)、礦物共生關(guān)系、雜質(zhì)分布等，還可配備能譜儀進(jìn)行微區(qū)成分分析。
應(yīng)用：在非金屬礦石研究中，用于深入了解礦石的微觀特征，指導(dǎo)礦石的選礦和加工工藝設(shè)計(jì)，以及研究礦石的成因和演化等。例如，在云母礦的研究中，通過電子顯微鏡可觀察云母的晶體結(jié)構(gòu)和層間雜質(zhì)，為云母的提純和應(yīng)用提供依據(jù)。