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了解你的被測(cè)試裝置被測(cè)試裝置（DUT）的性能會(huì)顯著影響射頻測(cè)量。，溫度會(huì)影響穩(wěn)定性，并因此與可重復(fù)性密切相關(guān)。許多射頻器件和射頻儀器沒(méi)有對(duì)溫度變化的內(nèi)部補(bǔ)償。它們?cè)诜€(wěn)定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測(cè)量誤差。當(dāng)前的環(huán)境（，空調(diào)循環(huán)的開(kāi)啟與關(guān)閉，覆蓋物和面板的移除或增加，處于戶(hù)外或室內(nèi)，以及是否接近熱源）會(huì)有很大影響。需要注意適當(dāng)?shù)念A(yù)熱時(shí)間、被測(cè)試裝置的冷卻需求和周邊的環(huán)境以確保溫度穩(wěn)定性。
