徐州回收貼片電容 收購(gòu)基美電容
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ERJC1CJR091U，CA231，SA604AD/02J，S27KL0641DABHB030，ERJH2GJ1R6X，SC20-E，EP4CE30F19A7N，SKM75GAR063D，TC7PCI3212MT，TPS715A01DR，AD7490BRUZ，ERA3ARW9312V，D9NCN，RHEL81E105K1DBH03A，CC0805GKNPO9BN392，ERJH3EF2150V，F(xiàn)28384DZWTSR，LTC2265IUJ-14#TRPBF，MT54W512H36BF-5，ERG3SJ512V，ERJS14F7683U，UMK063B7471KP-F，UMK063CG6R7CT-F，DTC124EMFHA，HFE10-2/24-Z5T-L1-R，HF105F-4/048DK-1HSTF，EXB24V914JX，ADS122C04IPWR，ERJ1TRQF1R8U，CLVC373AQDWRG4Q1，THHI106M035W0500w，ERJU08D2373V，F(xiàn)BNM72A41K3BAAWP-AF，B5818W，MCP1790T-5002E/DBVAO，MT46H32M16LFBF-6IT:B，ERJUP6D1021V，5SGSMD4K3F40C2L，XCZU25DR-1FSVE1156E，ML9098B，MT41J256M4JP-125:F，R5F10AGDYFB，XCVU1-2SSVB2104E，74AUP3G34GT，DE2E3SA102MA302F，DS80CH11，BAS40LS，EXB18V184JX，MX25U6432FZNI02，ERA6AEC6041V
X射線(xiàn)光譜分析儀的好壞常常是以X射線(xiàn)強(qiáng)度測(cè)量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來(lái)表示的，BX系列波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以待測(cè)樣品分析測(cè)量的精度，被分析樣品的制樣技術(shù)成為影響分析準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)?huì)反映在分析結(jié)果的質(zhì)量上。X射線(xiàn)熒光儀器分析誤差的來(lái)源主要有以下幾個(gè)方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測(cè)樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測(cè)定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。
