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OTA測試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射干擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進去，是非常接近產(chǎn)品實際使用場景的測試手段。我們以早的3GUESISOOTA測試為例來了解OTA測試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉(zhuǎn)盤（控制UE旋轉(zhuǎn)）天線（在某一固置接收UE輻射信號）用于提供天線虛擬信號的無線測試平臺（如KeysightUXM系列，圖中未顯示）測量過程中將通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺來控制并測量UE天線在不同方向的輻射特性。